Matavimai špera


Mechanikos Špera.

Pagrindinės matavimų savokos. Skyra skyriamoji geba. Statis tikimybiniai matavimų teorijos pagrindai. Imtis. Atsitiktinių dydžių sumos dispersija. Matavimų neapibrėžtis paklaida. Fizikinių dydžių vienetai ir etalonai. Tiesinės metrologijos pagrindai. Statistinės matavimų teorijos pagrindai. Standartinės neapibrėžties nustatymas „ “ metodu. Matavimo keitlių klasifikavimas Aktyvūs generatoriniai. Aktyvūs generatoriniai keitliai. Atskaitos ir registravimo prietaisai VAIZDUOKLIAI Vaizduoklių klasifikavimasPaskutinis. Keitliu jungimo MATAVIMO GRANDINĖS Nuoseklios grandinėsNuoseklios. Įtampos daliklio grandinės. Ilgių ir kampų matai. Mechaninės matavimo priemonės. Mechaninės matavimo galvutės ir jų taikymas. Projektoriai ir mikroskopai. Paviršių formos ir tarpusavio išsidėstymo nuokrypių mataviams. Sriegių parametrų matavimas. Paviršiaus šiurkštumo ir banguotumo matavimas. Koordinatinė matavimo mašina KMM. Nonijaus skales sudarymo principas. Lygaus mikrometro veikimas. Judesio parametru matavimas. Greičių matavimas ir tachometrai. Virpesių ir pagreičių matavimo metodai. (()=( / (( -( + 2 = xr0 / xp. Vibrometrų ir akcelerometrų keitliai. Reostatiniai keitliai Tenzorezistoriniai akcelerometrai Pjezoelektriniai akcelerometrai. Jėgų momentų , eformacijų ir įtempių matavimas. svėrimas jėgų matavimo metodai. Mechaniniai svirtiniai jėgomačiai. Hidrauliniai ir pneumatiniai jėgomačiai dinamometrai. Svėrimas. Svėrimo uždaviniai. Sukimo momento matuokliai torsiometrai. Temperaturos skales , etalonai ir kalibravimas. Elektriniai varziniai termometrai. Slėgio vienetai ir etalonai. Slėgio matavimo prietaisų klasifikavimas pagal. Skysčių ir dujų debito ir kiekio matavimasmatavimo vienetai. matavimo priemonių klasifikavimas. Greitiniai _( tachometriniai ) srautmaciai. Kintamo slėgio kritimo srautmaciai. Masės srautmaciai Inerciniai , Koriolio Šiluminiai . Inerciniai srautmatis.


Terminai: 1) Laikmena- atminties terpė, kurioje saugoma informacija. 2) Matavimas- apibrėžiamas kaip tam tikras veiksmas, kada fizikiniam dydžiui yra priskiriama tam tikra skaitinė reikšmė, sulyginant ją su etalonu. Stebėjimui kiekybinis įvertis nebūtinas. 3) Sisteminis matavimo apibrėžimas- matavimas suprantamas, kaip informacijos gavimas iš fizikinio pasaulio. 4) Steba- monitorius. 5) Matavimų duomenys- tai skaičiai gauti matavimo būdu. 6) Informacija- tai duomenys su dimensija. Matavimų prietaisai teikia informaciją. 7) Oscilograma- Švytavimų keitimo kreivė. 8) Skyra (skyriamoji geba)- tai mažiausias fizikinis dydis, išskiriamas prietaiso įėjime, optikoje.9) Kartojimasis- tai matavimo rezultato reikšmių kartojimasis matuojant tą patį dydį, tose pačiose situacijose.10) Atgaminamumas- ilgalaikis kartojimasis, tas pats dydis, tomis pačiomis sąlygomis. Matuojama dideliais intervalais. 11) Paklaida- apibrėžiama kaip skirtumas tarp klaidingos ir teisingos reikšmės. Absoliutinė paklaida ∆ = teisinga reikšmė – klaidinga reikšmė; 12) Neapibrėžtis- tai netaspats, kas matavimo paklaida. Ji nusako matuojamų dydžių sritį. y=f(x); x→f→y; 13) Misterezės paklaida- ∆h=(ym - yd); 14) Kalibravimas- grafikas; 15) Prietaiso jautris (k) k= dy/dx=df(x)/dx; => k=∆y/∆x; k=(σy/σx) pi=const; prietaiso jautris parametrų pokyčiams (Kpi) Kpi=(σy/σpi); ∆pi=(σy/σpi) 15) Dinaminis kalibravimas- naudojamas prietaisams kurioms svarbios dinaminės savybės (pagreičio matuokliai) x(t)=x*sin ώt; y(t)= Yώ*sin*(ώ+φώ); Tipiniai keitikliai keitimo funkcija y=f(x; p1; p2;...pn) => y1=f1(x); y2=f2(x1)=f2[f1(x)]; jautris y1=k1*x; k1=y1/x => bendras jautris k1=k1*k2*...*kn; Šis metodas taikomas nagrinėti prietaisų dinaminėms savybėms ir tada, kai nagrinėjamos prietaisų paklaidos Spi=(σy/σpi); Se=(σy/σpo) po=0; x=const; pj=const. j≠0 Kad, suma nurodo tam tikrą prietaiso funkcija y=y1+y2+...+yn; y1=f1(x), k1= σf1/σx; y2=f2(x), k2= σf2/σx; y3=f3(x), k3= σf3/σx; Gryžtamai lygiagretus jungimas. + rašomas, kai – priklauso R; - rašomas, kai + priklauso R; brėžinys y=f(x); x2=f2(y); Jai signalas yra stiprinamas, tai gryžtamas rišys yra teigiamas gryžtamas rišys sudaro stabilią būseną.x1=x±x2; Jei y=kx; ir y=k1x1; ir x2=k2y; tai y=k1x1=k1(x±x2)=k1(x±k2y); y=k1x±k1k2y; y(1±k1k2)=k1x; y=k1x/1±k1k2; k=k1/1±k1k2; Brėžinys Statis (tikimybiniai) matavimų teorijos pagrindai. Imtis- T.y. tam tikri bandymų rezultatai, kurių skaičiai yra baigtiniai. Tikimybė- t.y. riba, prie kurios artėja kokio nors įvykio pasirodymo dažnis. Tai įvykio dažnio riba. Ribą nusako bandymų skaičius. P=lim n→∞ na/n; Atsitiktinis- įvykis yra toksai, kurio bandymo metu gali įvykti arba neivykti. Įvykiai skirstomi į: garantuotus,... Atsitiktinis- dydis jis tam tikrą reikšmę įgauna atsitiktinio įvykio metu. Atsitiktinį dydį pilnai apibrėžia skirstinys x; p(x); F(x); p(x)=F‘(x); Grafikas F(x)=p(x

Kilus poreikiui suvienodinti matus tarptautiniu mastu ir kad vartotojas galėtų pasikliauti gaunamais rezultatais, buvo pasirašytas tarpvalstybinis, pasaulinio lygio, susitarimas – Metrinė konvencija. Metrinė sistema, kuria remiasi Metrinė konvencija, buvo išplėtota iki tarptautinės vienetų sistemos SI. 1791m Pranc nacionalinis susirinkimas priėmė metrinę matų sistemą. Tai buvo pirmoji dydžių vienetų sistema, kurią sudarė ilgis, masė ir laikas (dabar + elektros srovės stipris, temperatūra, medžiagos kiekis, šviesos stipris). Vėliau technikai ir mokslui plėtojantis buvo kuriamos ir kitos vienetų sistemos.

Matavimo etalonu-matavimo priemonė, realizuojanti matuojamojo dydžio vienetą. Ilgis – matuojamas metrais SI sistemoje. Metras yra lygus ilgiui kelio, kurį nueina šviesa vakuume per laiko intervalą lygų 1/299792458 s. Masė – jos vienetas kilogramas, jis lygus tarptautinio kilogramo prototipo masei. Be 1 kg masės etalono, dar vartojami kartotiniai ir daliniai kilogramo etalonai. Laikas – jo etalonas laikomas sekundė, kuri yra lygi 133Cs atomo virsmų tarp dviejų pagrindinės būsenos lygmenų 9 192 631 770 ± 20 periodų trukmei. Elektros srovės – vienetas yra amperas. Jo įteisintas apibrėžimas yra: Amperas yra stipris nuolatinės srovės, kuri tekėdama bagalinio ilgio ir be galo mažo skerspjūvio ploto griežtai lygiagrečiais laidininkais, esančiais vakuume 1 m atstumu vienas nuo kito, sukuria tarp šių laidininkų traukos jėgą, 1 m ilgyje lygią 2*10-7 niutonų. Temperatūra – etalonas kelvinas, kuris apibūdinamas kaip vandens trigubojo taško termodinaminės temperatūros 1/273,16 dalis: 1K=Ttr/273,16. Trigubas vandens taškas yra būsena, kurioje egzistuoja visų trijų būsenų – vandens garų, vandens ir ledo – pusiausvyros. Medžiagos kiekis – jo vienetas yra molis. Molis yra kiekis medžiagos, turinčios tiek struktūrinių vienetų, kiek atomų turi anglis 12C, kurios masė lygi 0,012 kg. Šviesos intensyvumas – etalonas kandela. Kandela yra šviesos intensyvumas pasirinkta kryptimi, spinduliuoj monochromatinės šviesos šaltinio, kurio bangos dažnis yra 540*1012 hercų ir kurio spinduliuot intensyvums ta kryptimi lygus 1/683 vato steradianui.

Jei matavimo prietaiso pavyzdys tenkina tipo patvirtinimo sąlygas, įgaliotoji institucija išduoda tipo patvirinimo sertifikatą ir matavimo priemonė gali būti pateikta patikrai. Matavimo priemonių patikrą sudaro techniniai bandymai, kuriuose pagal patikros taisykles atlieka kompetentinga įstaiga ir ženklinimas. Patikros techniniai bandymai susideda iš paradinio ir metrologinio tikrinimo. Pradinio metu nustatoma, ar matavimo priemonė buvo priimta patikrai ir ar jos projektas atitinka patikros taisyklėse numatytus reikalavimus. Atliekant metrologinį badymą, tikrinama ar tenkinami metrologiniai reikalavimai ir ar matuojant gaunamos paklaidos yra ne didesnės už didžiausiai leistinas paklaidas, numatytas matavimo priemonės techninėse sąlygose.

matuojant neišvengiama netikslumų. Jų atsiranda pirmiausiai dėl to, kad matuodami mes niekuomet neturime visos informacijos nei apie matuojamuosius dydžius, nei apie matavimo procesą. Todėl reikia įvertinti galimus netikslumus.

Matavimo neapibrėžtis yra su matavimo rezultatais susijęs parametras, apibūdinantis matuojamąjį dydį objektyviai nusakančia verčių sritį. Ji rodo, kiek matavimo rezultatas yra artimas tikrajai reikšmei.

Nustatant matavimo neapibrėžtį patogu matavimą susikirstyti į tris dalis: kalibravimą, duomenų gavimą ir duomenų apdorojimą. Kiekviena šių dalių turi savo paklaidas.

Kalibravimo paklaidos atsiranda dėl matavimo etalonų netikslumo, dėl paklaidų atsirandančių pačiame kalibravimo procese.

Duomenų gavimo paklaidos. Matavimo procesui būdingos paklaidos dėl matavimo priemonės netikslumo, matavimo sąlygu nepastovumo, matavimo jutiklio įtakos matavimo procesui. Be to pats matuojamasis dydis gali kisti per laiką ar erdvėje.

Duomenų apdorojimo paklaidos atsiranda nustatant geriausią matavimo duomenų atitikimą tam tikroms analitinėmis f-joms, t.p. atliekant apibendrintųjų metrologinių rodiklių skaičiavimus.

Su įėjimo dydžių įverčiais susijusioms neapibrėžtims nustatyti taikomas „A“ arba „B“ įvertinimo metodas. Taikant „A“ metodą, neapibrėžtis nustatoma remiantis matavimų imties statistine analize. Šiuo atvėju standartinė neapibrėžtis yra vidurkio eksperimentinis imties standartinis nuokrypis. Šiuo atvėju standartinė neapibrėžtis nustatoma tada, kai yra atlikta n nepriklausomų įėjimo dydžio Xi stebėjimų tomis pačiomis sąlygomis. Taikant „B“ metodą neapibrėžtis nustatoma ne pagal statistinės analizės rezultatus, o kitais būdais. Standartinė neapibrėžtis yra įvertinama remiant moksliškai pagrįstu sprendimu, padarytu naudojantis visa turima informacija apie galimą dydžio Xi sklaidą.

Jungtinė neapibrėžtis nustatoma tais atvėjais, kai matavimo rezultatas priklauso nuo daugelio kitų įėjimo dydžių. Ji apskaičiuojama kaip dalinių neapibrėžčių kvadratų sumos teigiama kvadratinė šaknis.

Išplėstinė neapibrėžtis nusako dalį matavimų rezultatų verčių, kurios pagrįstai gali būti priskirtos matuojamajam dydžiui.

Matavimo rezultatų pateikime, visą matuojamojo dydžio Y matavimo rezultato išraišką sudaro dvi dedamosios:

1)dydžio Y matavimo rezultatas; 2) dydžio Y neapibrėžtis, susijusi su įverčiu ;

Determinuotas signalas – bet kuriuo metu nustatomas vienareikšmiškai ir yra atkartojamas. Kaip signalas kis.

Stochastinis signalas – kiekvienu laiko momentu kinta atsitiktiniu būdu ir gali būti aprašytas tik statistikos dėsniais.

Stacionarusis signalas – tai stochastinis signalas, kurio statistinės charakteristikos per laiką nekinta.

Diskretieji signalai. Gautų matavimo prietaisais diagramų skaitmeninis apdorojimas susijęs su informacijos nuostoliais. Tačiau šiuos nuostolius galima sumažinti, jeigu impulsų dažnis bus ne mažesnis už dvigubą ribinį signalo dažnį ((0(2(r). Šiuolaikinėmis priemonėmis tai galima įgyvendinti.

STANDARTINĖS NEAPIBRĖŽTIES NUSTATYMAS „A“ METODU. Tai atliekama tada kai yra atlikta n bandymų nepriklausomų įėjimo dydžio Xi stebėjimų tomis pačiomis sąlygomis. Trakime ,kad daug kartų išmatuotas įėjimo dydis Xi yra dydis Q. Pagal n atliktų matavimų nustatytas dydžio Q įvertis yra q(su br.) – individualių nustatytų verčių qi (i=1,2...i) aritmetinis vidurkis. q(su br.)=1/n Σqi. Su įverčiu q(su br.) susijusi neapibrėžtis nustatoma taip: qi sklaidos įvertis yra eksperimentinė dispersija: D=1/n-1(Σ(qi-q(su. br))^2. Arba teigiama šaknis iš dispersijos – eksperimentinis imties standartinis nuokrypis sq. Eksperimentinio vidurkio dispersija : s2q =D/n arba eksperimentinis imties standartinis vidurkio nukrypis Sq(su br.). Su įėjimo dydžio įverčiu q(su br.) susijusi standartinė neapibrėžtis uq= Sq(su br

1 Matavimo keitliai: Matavimo keitlys vieną dydį pakeičia į kitą. Svarbūs keitliai , kurie turi elektrinį išėjimo dydį (R, U, ir panašiai) . matavimo keitlių klasifikavimas: Aktyvūs (generatoriniai):pjezoelektriniai , tenzoelektriniai, indukciniai, fotogalvaniniai. Pasyvūs(parametriniai) R: Reostatiniai tenzorezistoriai , termorezistoriai , magnetorezistoriai, angliniai , elektrolitai , fotorezistoriai....c: talpiniai induktyviniai, transformatoriniai. Aktyvūs-išėjime sukure potensialų skirtumą t.y. dirba kaip generatorius. Kartais aktyvus keitiklis gali dirbti kai pasyvus ir atvirkščiai. Mechaniniai keitikliai (mechaniu išėjimu) . Svertas y≈b/a∙x , jei b=10a→y=10x . S=f(F) ; S=Fl3/3EI=kF ; F/S=c=1/k ; F=c∙s , c- standumas , 1/k- slankumas c=3EI/l3 . Tamprus žiedas , spyruoklė kaip kreipimo elementas . Keitlių charakteristikos: 1) keitimo funkcija, 2) Jautris , 3) matavimo ribos (sritis) , 4) trikdžiai , 5) tikslumas . Aktyvūs (generatoriniai) keitliai: Pjezoelektriniai AK. remiasi pjezoelektriniu efektu . Kai kurios medžiagos pasižymi šiuo efektu (kvarcas, segmento druska , pjezokeramikos). Klasikinė medžiaga yra kvarcas. Tiesioginis išilginis efektas: qx=dFx , d=2,3∙10-12 c/N (kvarco) . u=q/c . Jėga (F) paverčiama į įtampą (U) . skersinis efektas kai F veikia y ašies kryptimi. Qy=-d∙lq/lk∙Fy . Pjezo keramikos d=250∙10-12 c/N . virš 500 0C pjeziefektas dingsta. Panaudojamas taip pat ir atvirkštinis pjezooefektas. Pjezoelektrinio jutiklio įėjimo dydis yra F , išėjimo dydis yra elektros krūvis. Trūkimai: galima naudoti tik dinaminiuose matavimuose. Vidaus varža R yra labai didelė , t.y. įjungimui reikia papildomo prietaiso , kurio R taip pat yra labai didelė. Indukciniai AK. remiasi elektromagnetiniu indukcijos principu. Veikia generatoriaus principu. Φ=F/Rm ; Φ- magnetinis srautas. Tokio tipo Indukcinis A. Plačiai naudojami: Privalumai: patikimi , stiprus signalas , patogu pervesti į kompiuterinę formą. Trūkumai: neturi signalo t.y. jei diskas nejuda arba kai mažas w, signalas silpnas. E=-dΦ/dt 2. Atskaitos ir registravimo prietaisai (VAIZDUOKLIAI) Vaizduoklių klasifikavimasPaskutinis matavimo sistemos elementas, pateikiantis matavimo informaciją stebėtojui, vadinamas vaizduokliu. Jeigu keitlio veikimo principas ir konstrukcija labai priklauso nuo matuojamojo dydžio ir matavimo sąlygų, tai vaizduoklis dažnai yra universalus prietaisas, kuris įėjimo dydį atvaizduoja žmogui suprantama forma. Anksčiau kaip vaizduokliai buvo plačiai naudojami elektromechaniniai rodykliniai prietaisai, dabar vis dažniau naudojami patogesni elektroniniai skaitmeniniai ir ekraniniai prietaisai. Kadangi tokie prietaisai tiesiogiai nematuoja, o tik atvaizduoja išmatuotą dydį, jie kartais vadinami antriniais prietaisais. Tiesa, dažnai antrinio prietaiso sudėtyje yra ir kiti matavimo sistemos elementai ( matavimo grandinės ir signalo norminimo įtaisai.Vaizduoklį stengiamasi konstruoti taip, kad žmogus kuo geriau ir be klaidų suvoktų perduodamą informaciją. Jeigu ši sąlyga įvykdoma nevisiškai, gali atsirasti stebėjimo paklaida. Vaizduokliai gali būti analoginiai ir skaitmeniniai. Analoginiai vaizduoja matuojamąjį dydį tolydinėje skalėje, todėl iš principo gali būti atskaityta bet kokia matuojamojo dydžio reikšmė. Skaitmeniniai negali pamatuoti mažesne skyra, negu jauniausios skilties vertė. Šie vaizduokliai naudojami vis plačiau, nes iki minimumo sumažina stebėjimo klaidos tikimybę. Be to, vaizduokliai skirstomi į dvi dideles grupes ( rodančius ir registruojančius. Vaizduoklio tipo pasirinkimas priklauso nuo matuojamojo dydžio kitimo spartos ir charakterio. Paprastai registruoti reikia, kai: 1) procesas greitas; 2) vienu metu reikia matuoti ir apdoroti daug duomenų, pvz., matuoti slėgį, temperatūrą ir cheminę medžiagos sudėtį reaktoriuje, pagal šiuos duomenis atlikti reikalingus skaičiavimus ir valdyti procesą; 3) avarijos atveju, pvz., krintant lėktuvui, kai stebėtojas nepajėgus atlikti apgalvotus veiksmus. Pirmuoju atveju labai patogu procesą užrašyti pastoviu greičiu judančioje juostoje, kaip tai atliekama kardiografe. Panašūs uždaviniai sprendžiami šviesos spindulio osciloskopu, kuris dažniau naudojamas laboratorijose, o ne gamyboje. Antruoju atveju patogu duomenis registruoti skaitmenine forma daugiakanaliu prietaisu popieriaus juostoje arba kompiuterio spausdintuvu. Trečiuoju atveju naudojami gerai apsaugoti tvirtos konstrukcijos automatiški savirašiai su magnetine ir kitokia patikima registracija. Jeigu užtenka rodančio (vizualaus) vaizduoklio, tai pirmiausiai turi būti nuspręsta, ar jis gali būti rodyklinis, ar geriau skaitmeninis. Naudojant rodyklinį prietaisą, stebėtojas turi atlikti interpoliavimo veiksmą, kai rodyklė yra tarp dviejų skalės padalų. Dėl to atsiranda interpoliavimo paklaida, kuri priklauso nuo rodmenų įtaiso konstrukcijos ir individualių stebėtojo savybių. Laikoma, kad geriausiu atveju ji nebūna mažesnė, kaip 0,1 padalos vertės. Be to, tokiam įtaisui taip pat charakteringa paralakso paklaida, kai stebėjimo linija nėra statmena skalei. Skaitmeniniai rodmenų įtaisai praktiškai neturi stebėjimo paklaidų (jeigu tik rodmuo pakankamai stabilus).

4.ILGIŲ IR KAMPŲ MATAI. Ilgio matai: 1) Brūkšniniai ilgio matai BIM: a) Standūs BIM: skalės ,4-ių tipų liniuotės b) Lankstūs BIM: metrai ,ruletės (susivyniojančios ,griovelinės). 2) Galiniai ilgio matai GIM. Kampo matai: 1) Brūkšniniai kampo matai: kampamačiai 2) galiniai kampo matai: kampų plytelės ,daugiabriaunės prizmės (poligonai) , 900 kampainiai. Matas - įtaisas, kuris išlaiko vieną ar daugiau fizikinio dydžio vertę. Matuoklis- įt. skirtas matuoti savarankiškai ar kartu su kitais įt. Jie yra Rodmeniniai ,registravimo ,integravimo ,analoginiai ,skaitmeniniai. BIM ilgį atgamina atstumu tarp brūkšnių. Jie būna: daugiareikšmiai ,vienareikšmiai(paprasta liniuot.). Standūs BIM 5psl. 1;2; Lankstūs 3 (ruletės: a-b susivyniojančios uždaru korpusu; c-d griovelinė). 6psl. a-b darbinės liniuotės. GIM ilgį atgamina atstumu tarp // plokštumų. Jie yra svarbiausias geometrinių matavimų ilgio matas. Jie gali būti plytelių formos 7psl. 1. 7psl. 2. a-kvadratinės. naud. laikrodžių pramonėje.; b-pleištai; c-tarpumačiai, d-su skyle centre. GKM vieną ar keletą <-ų atgamina linijų ar plokštumų poslinkiu.

MECHANINĖS MATAVIMO PRIEMONĖS. Skalės ir liniuotės. Skalės graduojamos sąlyginiais vnt., didesniais ar mažesniais už dydžius ,kuriuos jie atspindi. Liniuotėse brūkšniai atspindi realius dydžius. Paprasčiausiesms iki 1000mm matavimams naud. brūkšninės metalinės liniuotės ,kurių skalės padalos vertė (c) yra: c=1 ar 0.5 mm . Brūkšnių padėties paklaida Δ=+-0.2mm.

6.OPTINIAI PRIETAISAI. Geometrinės optikos prietaisai skirstomi į : 1) projektorius 2) mikroskopus 3) teleskopus: a) kolimatoriai b) auto kolimatoriai. Fizikinės optikos prietaisai: 1) interferometrai 2) lazeriniai prietaisai 3) difrakcinės gardelės.

10,PAVIRŠIAUS ŠIURKŠTUMO IR BANGUOTUMO MATAVIMAS.Paviršiaus šiurkštumu vadinama mažu žingsniu pasikartojančių mikrogeometrinių nelygumų visuma. Standartas ISO R 468 – 1 numato, kad šiurkštumas turi būti nustatomas pagal šiuos parametrus:- Ra-profilio aritmetinio vidurkio nukrypimą, Rz - vidutinį paviršiaus mikronelygumų aukštį; Rmax - didžiausią mikronelygumų aukštį;- Sm vidutinį mikronelygumų žingsnį; Si- vidutinį mikronelygumų viršūnių žingsnį; tp- santykinį profilio atraminį ilgį, kur p - profilio kirtimo gylio skaitinė vertė. Profilometras 283.Tai paprastas cechinis prietaisas, kuriuo galima greitai nustatyti tiriamojo paviršiaus šiurkštumo parametrą Ra. Prietaiso adatos poslinkiai svirtimi perduodami judamam mechanotrono elektrodui. Mechanotronas įjungtas į tiltelio grandinę. Grandinės išėjimo įtampa detektuojama ir integruojama grandine, kurios svarbiausią dalį sudaro operacinis stiprintuvas. Išėjimo įtampa matuojama magnetoelektrinės sistemos prietaisu, kurio skalė sugraduota Ra vienetais. Matuojamoji detalė dedama ant stalo 9; jeigu ji cilindrinė, naudojama prizmė 5. Keitiklis 1 tvirtinamas motorinėje pavaroje 2. Signalui apdoroti yra elektroninis blokas 3, kuriame yra skalės 8, sugraduotos Ra vienetais. Paviršiaus parametras Rz matuojamas mikrointerferometru. Šį prietaisą sudaro Maikelsono interferometras ir mikroskopas. Šviesos šaltinis 1 sukuria spindulių pluoštą, kuris, perėjęs per lęšį 2, filtrą 3, plyšį 4, nukreipiamas į diafragmą 5. Keičiant filtrą 3, prietaisas gali skleisti baltą, žalią ar oranžinę šviesą. Toliau spindulių pluoštą, perėjusį per objektyvą 6, plokštelė 9 (pusskaidrė) padalija į du pluoštus. Mikroobjektyvas 7 sufokusuoja vieną pluoštą į bandinį 8, o kitas srautas per kompensacinę plokštelę 10, mikroobjektyvą 11 yra sufokusuojamas ant veidrodžio 12. Pirmasis pluoštas atsispindi nuo tiriamojo paviršiaus, o antrasis – nuo veidrodžio 12. Atsispindėję abu pluoštai sugrįžta ant plokštelės 9 apatinio paviršiaus. Kadangi abu srautai yra sukurti to paties šaltinio, jie yra koherentiški ir interferuoja. Objektyvas 13 ir okuliaras 14 sudaro mikroskopą, naudojamą interferencinėms juostoms stebėti. Išėmus veidrodį 15, ekrane 18 atsiradusį interferencinį vaizdą galima fotografuoti pro plyšį 17.

11.Koordinatinė matavimo mašina (KMM) yra daugiafunkcis geometrinių matavimų įrenginys. KMM matuojami linijiniai ir kampiniai matmenys, paviršių formos ir tarpusavio padėties nuokrypiai ir kt. Koordinatinio matavimo esmę sudaro detalės paviršiaus taškų koordinačių matavimas ir šitaip gautos informacijos matematinis apdorojimas. Koordinatinėmis matavimo mašinomis gali būti išmatuotos korpusinės detalės, štampuotos detalės, automobilių kėbulai, krumpliaračiai, skirstymo velenai, turbinų mentės, sraigtai ir kt. Pagal matavimo gatvutės judėjimo kryptį, KMM skirstomos į vertikaliąsias ir horizontaliąsias, pagal detalės paslankumą, - į mašinas su judama ir su nejudama detale.Universaliausios yra portalinės mašinos. Pagrindinis jų požymis - ( formos portalas.Dėl pamato virpesių gali atsirasti didelių matavimo paklaidų. Jiems slopinti naudojamos vibroizoliacinės atramos.KMM pagrindas, kuriuo juda slankieji KMM mazgai, dažnai gaminamas iš granito.Slankiosios detalės su preciziniais kreipiamaisiais paviršiais (portalo sija, stovas, pinolė, konsolė) gaminamos iš specialių aliuminio lydinių ir dengiamos kieta danga. Slankiosios korpusinės detalės liejamos iš lengvųjų lydinių arba suvirinamos iš plieno lakštų.

12,Optimetrai priklauso optinių-mechaninių prietaisų grupei. Jų veikimas paremtas optinio sverto ir autokolimacijos principais. Svarbiausia optimetro dalis yra jo vamzdelis kuriame tvirtinamos optinės detalės. Šviesos spinduliai nuo apšvietimo veidrodėlio per prizmę apšviečia skalę, įbrėžtą stiklinėje plokštelėje . Plokštelė yra objektyvo židinio plokštumoje, bet įbrėžtoji skalė pastumta į šoną nuo optinės ašies. Iš plokštelės spinduliai eina į prizmę, lūžta joje ir patenka į objektyvą. Iš objektyvo šviesa lygiagrečiu pluoštu krinta į veidrodėlį , kurį ašies atžvilgiu varto matavimo stiebelis . Nuo veidrodėlio atsispindėję spinduliai grįžta į objektyvą, o šis juos sufokusuoja į tą pačią plokštelę . Skalės vaizdas šioje plokštelėje gaunamas kitoje optinės ašies pusėje ir, veidrodėliui judant, slankioja aukštyn arba žemyn. Žiūrint pro okuliarą, skalės poslinkį galima atskaityti nejudamo indekso, įbrėžto toje pačioje plokštelėje, atžvilgiu. Kadangi už objektyvo spinduliai lygiagretūs, tai veidrodėlio atstumas nuo objektyvo neturi įtakos skalės vaizdo poslinkiui. Poslinkio dydis priklauso tik nuo veidrodėlio pokrypio kampo, kuris yra proporcingas matavimo antgalio poslinkiui. Tokia optinė schema vadinama autokolimacine. Matavimo stiebelio gale tvirtinamas sferinis, plokščias arba peilinis antgalis. Antgalio forma parenkama pagal matuojamojo dirbinio pavidalą. Labai dažnai naudojami sferiniai antgaliai.Naujesni optimetrai turi ne okuliarinį bet ekraninį arba skaitmeninį atskaitos įtaisą.Vertikaliuoju optimetru matuojami išoriniai matmenys lyginamuoju (diferenciniu) metodu Kadangi matuojama lyginamuoju metodu, tai matavimo neapibrėžtis priklauso ir nuo optimetro, ir nuo plytelių bloko, pagal kurį derinamas optimetras, paklaidų.

13.Slankmatiniai įankiai. Jiems priklauso slankmaciai, gylmaciai, aukscio matuokliai. Sie matavimo irankiai naudojami gamyboje vidiniams ir isoriniams pavirsiam matuoti. c=(0.1...0.64)mm, (=((0.04...0.24)mm. Slankmatiniai matavimo irankiai turi nonijaus skale. Nonijaus skales sudarymo principas. Laikoma, kad min plika akimi pastebimas brškšnių poslinkis 0.012mm. Slankmačiai Patogesni slankmačiai yra tie, kur vietoje NS yra krumpiastiebis ir krumpliaratorinis indikatorius. Dar geresni slankmačiai, kurie turi elektronines slankiklio poslinkio sistemas. Jis susideda iš: ekrano, matavimo kondensatoriaus, kontrolinis kondensatorius, bendras elektrodas, stiprintuvas. Mikrometriniai matavimai ir MMĮ . Jų matavimo sritis 500mm Matavimo ribos kas 25(m. Mikrometrai būna su viena apskritimine skale, elektriniai mirktometrai, lakštiniai, vamzdiniai, krumpliniai, stalinis. Laikoma, kad min plika akimi pastebimas br8k6ni7 poslinkis 0.012mm. Slankmačiai. Patogesni slankmačiai yra tie, kur vietoje NS yra krumpiastiebis ir krumpliaratorinis indikatorius. Dar geresni slankmačiai, kurie turi elektronines slankiklio poslinkio sistemas. Jis susideda iš: ekrano, matavimo kondensatoriaus, kontrolinis kondensatorius, bendras elektrodas, stiprintuvas. Mikrometriniai matavimai ir MMĮ Jų matavimo sritis 500mm Matavimo ribos kas 25(m. Mikrometrai būna su viena apskritimine skale, elektriniai mirktometrai, lakštiniai, vamzdiniai, krumpliniai, stalinis. Lygaus mikrometro veikimas. Į apkabą įpresuotas antgalis ir kotas. Mikrometrinis sraigtas įsukamas į mikroveržlę. Reguliavimo veržlė suspaudžia mikroveržlę tol, kol sraigtas juda joje be tarpo. Prie mikro sraigto gaubteliu tvirtinamas būgnas. Gaubtelį galima pasukti veržle, kuri pariboja matavimo jėgą.. Reikiamoje padėtyje sraigtą fiksuoja fiksatorius kurį sudaro įvorė ir fiksavimo sraigtas. MMĮ – kuriuose yra du susiję atskaitos įtaisai: sraigto išilginiam poslinkiui matuoti, sraigto kampiniam poslinkiui matuoti. Mikrometro žingsnis 0,5mm. Ant koto yra dvi milimetrinės skalės išdėstytos 0,5mm poslinkiui iš abiejų pusių nuo nulinio brūkšnio sukantis sraigtui sukasi būgnelis ir pagal jo kraštą atskaitomi poslinkiai 0,5mm tikslumu. Apskritiminės skalės padalos vertė 0,01.

14. Judesio parametru matavimas. Judesys charakterizuojamas: 1.Poslinkiu S, 2.Greičiu V=ds/dt; (=dφ/dt.3.Pagreičiu a=d2s/dt2; ε=d2φ/dt2. Poslinkių matavimas: Statiniai matavimai kai maži greičiai, Dinaminiai matavimai, kai dideli greičiai, naudojami matuoti keitikliai, kurie duoda periodinį signalą. Mažiems poslinkiams matuoti iki kelių mm naudojami induktyviniai matuokliai, tenzorezistoriniai keitikliai.

15.Virpesių ir pagreičių matavimo metodai. Greičiai matuojami rečiau. Visi virp. Matavimai yra dinaminiai, kadangi t.y. ryškiai kintantis dydis. Atsiranda dinaminės paklaidos. Matuoti galima 2 metodais: 1)kinematiniu, 2)inerciniu. Kinematinis -: reikia turėti nejudamą bazę. Galime matuoti betkokiais poslinkių keitikliais. Inercinį metodą naudojant yra sukuriama inercinė koord. Sistema. 1-korpusas; 2-inercinė masė; 3-tamprus el; 4-slopintuvas. Y-masėsjudesys korpuso atžvilgiu; x-korpuso judesys. Virpesių poslinkis matuojamas vibrometrais, greitis – velosimetrais, pagreitis – akcelometru, dažnis – dažnometru. Pagal tai kokį elementą reik matuot, priklausomai naud. Indukt., talp. Ir kiti keitikliai.

17.Inercinis akcelerometras Inercinis akcelerometras yra vienas svarbiausių ir dažniausiai naudojamų prietaisų judesiui matuoti. Taip yra dėl kelių priežasčių: 1) Akcelerometro praleidžiamų dažnių juosta prasideda nuo nulio, o ne nuo kažkokios apatinės ribos, kaip vibrometro; todėl galima matuoti net pastovius pagreičius (išskyrus pjezoelektrinius akcelerometrus). 2) Norint pamatuoti virpesių greičius ir poslinkius, reikia akcelerometro signalą integruoti, o ši operacija yra daug patikimesnė ir įneša daug mažiau triukšmų, negu diferencijavimas, kuris reikalingas, norint iš vibrometro signalo apskaičiuoti greičius ir pagreičius. 3) Lengviau pamatuoti smūgio parametrus, nes akcelerometras gali perteikti platesnę dažnių juostą, negu vibrometras. 4) Pavojingos jėgos, atsirandančios mašinose, daugiau siejasi su pagreičiais, negu su poslinkiais. Principinė akcelerometro keitlio schema yra tokia pati, kaip ir vibrometro ir aprašoma ta pačia lygtimi. Tarkime, kad pagreitis kinta pagal harmoninį dėsnį:ap=aposin(t. Atlikę abiejų lygties pusių Furjė transformaciją, gauname kompleksinę akcelerometro perdavimo funkciją:Ka(s)=1/(s2+2(s+(02). Šios funkcijos modulis yra akcelerometro amplitudės ( dažnio charakteristika: Aa(()=xr0/ap0, čia xr0 ( santykinio inercinės masės poslinkio sinusoidės amplitudė; ap0 ( pagrindo pagreičio sinusoidės ampitudė. Kadangi santykio xr0 / ap0 dimensija yra s2, tai šis dydis paprastai dauginamas iš (02 tam, kad gautume bevardį dydį Ba ( bedimensę akcelerometro amplitudės ( dažnio charakteristiką: Ba(()=xr0*(02/ap0. Jeigu Ba visoje matuojamų dažnių srityje būtų lygi vienetui, tai santykinio masės poslinkio amplitudė xr0 būtų tiesiai proporcinga matuojamo pagreičio amplitudei:xro=ap0/(02, o mechaninis jautris lygus S=1/(02. Apytiksliai galime laikyti, kad dinaminė paklaida (d = Ba ( 1 mažesnė, negu 5%, kai ( ( 0,2. Kadangi ( ( 1, tai ir ( ( (0, todėl akcelerometras vadinamas aukštų dažnių prietaisu. Skirtingai nuo vibrometro, savasis akcelerometro dažnis (0 gana didelis, todėl akcelerometro praleidžiamų dažnių juosta absoliutiniais vienetais (Hz) gali būti labai plati. Tačiau didinant savąjį dažnį mažėja prietaiso jautris S. Praktiškai turi būti parenkamas priimtinas kompromisas tarp abiejų reikalavimų. Akcelerometro fazės ( dažnio charakteristika yra tokia pati, kaip ir vibrometro.

Bendroji vibrometro ir akcelerometro teorija teisinga esant bet kokiam keitliui, pakeičiančiam santykinį korpuso poslinkį inercinės masės atžvilgiu į elektrinį signalą, bet keitlio savybės atsiliepia prietaiso darbui. Reostatiniai keitliai gali būti naudojami vibrometruose ir akcelerometruose žemų dažnių virpesiams matuoti. Jų teigiamybės yra stiprus signalas, kurio dažnai nereikia stiprinti, o trūkumas ( šliaužiantis elektrinis kontaktas, kuris gali kartais nutrūkti, kibirkščiuoti; dėl to atsiranda trikdžiai. Inercinė masė pakabinta ant keturių plokščių spyruoklių . Jos viduje įtaisytas oro arba skysčio slopintuvas, tarp kurio stūmoklio ir cilindro yra nedidelis tarpelis. Kai oras arba skystis teka pro šį tarpelį, susidaro skystosios trinties jėga, proporcinga stūmoklio greičiui cilindro atžvilgiu. Inercinei masei judant korpuso atžvilgiu, kartu juda šliaužiklis reostato atžvilgiu. Reostatas įjungtas į įtampos daliklio grandinę. Prietaisas dažnai dirba kaip akcelerometras, jo savasis dažnis nuo 10 iki 90 Hz, matuoja nuo 10 iki 500 m/s2 amplitudės pagreičius, slopimo laipsnis nuo 0,5 iki 0,8, priklausomai nuo skysčio rūšies. Tenzorezistoriniai akcelerometrai. Prie korpuso pritvirtintos dvi gembinės spyruoklės, ant jų galų ( inercinės masės. Iš abiejų spyruoklių pusių priklijuota po du tenzorezistorius, kurie įjungti į keturius tiltelinės grandinės pečius. Veikiant vertikalios krypties pagreičiui, inercines mases veikia atitinkamos inercijos jėgos, kurios lenkia plokščias spyruokles. Spyruoklių deformacijos matuojamos tenzorezistoriais, juos tinkamai įjungę į grandinę, galime gauti keturis kartus didesnį jautrį, negu naudojant vieną tenzorezistorių, ir kompensuoti signalą dėl kampinio pagreičio veikimo. Savasis keitlio dažnis nuo 20 iki 800 Hz, gali matuoti nuo 5 iki 2000 m/s2 amplitudės pagreičius, paklaida iki 1 %. Pjezoelektriniai akcelerometrai. Šiuo metu virpesių pagreitis dažniausiai matuojamas pjezoelektriniais akcelerometrais. Pjezoelektrinis akcelerometro jutiklis paprastai gaminamas iš pjezokeramikos. Yra sukurta labai daug jų konstrukcijų, pasižyminčių skirtingomis charakteristikomis. Akcelerometro jutiklis ( pjezoelektrinis žiedas veržle, užsukama ant smeigės, yra suspaustas tarp pagrindo ir inercinės masės. Veikiant pagreičiui, susidaro inercijos jėga, kuri, priklausomai nuo pagreičio krypties, didina arba mažina pjezoelemento įtempius; dėl to ant pjezoplokštelės elektrodų atsiranda elektros krūviai. Du laidininkai sujungti su elektrodais ir išvesti į jungtį, kad keitlį būtų galima prijungti prie antrinio prietaiso. Šioje konstrukcijoje smeigė turi būti elektriškai izoliuota nuo inercinės masės, kad elektrodai nebūtų susijungę per metalines keitlio detales. Arba keitliui judant su pagreičiu vertikaliai, masės inercijos jėga sukuria žiediniame pjezoelemente šlyties deformacijas, dėl kurių ant elektrodų atsiranda krūviai. Elektrodai laidais sujungti su atitinkamais jungties kontaktais. Abu keitliai sriegine jungtimi tvirtinami prie tiriamo objekto. Svarbu, kad tvirtinimo standumas būtų pakankamai didelis, ypač matuojant smūginius pagreičius, t. y. kad keitlys judėtų kartu su objektu ir smūgio metu. Pjezoelektriniai keitliai gali turėti labai didelį savąjį dažnį, didesnį, negu kitų tipų akcelerometrai, todėl jais be didelių dinaminių paklaidų galima matuoti smūginius pagreičius. Šio tipo keitliuose slopintuvai nenaudojami, ir virpesiai slopsta tik dėl pjezoelemento histerezės, todėl slopimo laipsnis labai mažas (apie 0,01), bet tai priimtina, įvertinant didelį savąjį dažnį. Apatinė praleidžiamų dažnių juostos riba fa priklauso nuo keitlio laiko pastoviosios (, kuri gali sudaryti dešimtąsias sekundės dalis, todėl fa = 1/( lygi keliems hercams. Pjezoelektrinio keitlio išėjimo signalas silpnas, todėl jį reikia stiprinti. Tam naudojami įtampos arba krūvio stiprintuvai. Pastarieji geresni, nes jie ne tik sumažina jungimo kabelio įtaką signalui, bet ir padidina laiko pastoviąją. Apibendrinant pjezoelektrinio akcelerometro praleidžiamų dažnių juostos plotis įvertinamas išraiška 3/(≤(≤0,2(0. Reikia pastebėti, kad akcelerometras jautrus tik vienos krypties pagreičiui. Ši kryptis vadinama akcelerometro jautrio ašimi.. pavaizduotų akcelerometrų jautrio ašis yra vertikali.

19.JĖGŲ,MOMENTŲ, EFORMACIJŲ IR ĮTEMPIŲ MATAVIMAS. SVĖRIMAS Jėgų matavimo metodai Yra keli jėgų matavimo metodai: 1) Nežinomos jėgos atsvėrimas žinomos masės kūno sunkio jėga. Atsveriama tiesiogiai lygiapečiu svertu arba netiesiogiai nelygiapečiu svertu arba svirčių sistema. 2) Matuojamas žinomos masės kūno pagreitis, kurį kūnas išvysto, veikiant jėgai. 3) Uždaroje kameroje matuojamas skysčio arba dujų slėgis, kurį sudaro matuojamoji jėga. 4) Nežinoma jėga atsveriama elektromagnetine jėga, kurią sudaro elektros srovė tekėdama rite, esančia pastovaus magneto magnetiniame lauke. 5) Nežinoma jėga veikia tamprųjį elementą.

22.svarstyklių klasifikavimas :1) svirtines (vienasvirtes ir daugiasvirtes); 2) kvadrantines; 3) spyruoklines (mechanines ir su elektriniais keitliais); 4) hidraulines;5) elektromagnetines. Pagal paskirtį svarstykles galima klasifikuoti į: bendros paskirties; laboratorines; technologines; metrologines ir specialias. Bendros paskirties svarstyklės yra nedidelio tikslumo; jos dar skirstomos į: stalines; platformines kilnojamas; platformines stacionarias. Laboratorinės svarstyklės dažniausiai naudojamos cheminėms analizėms. Jų tikslumas gana didelis. Pagal konstrukciją ir panaudojimo sritį jos skirstomos į: technines; analitines; torsines (sukamąsias); specializuotas (pvz., standartinio tūrio grūdų masei nustatyti). Technologinės svarstyklės paprastai naudojamos gamyboje. Jos skirstomos į: svarstykles vienetiniams krūviams; svarstykles birioms medžiagoms; dozatorius. Metrologinės svarstyklės naudojamos kaip masės komparatoriai etaloninių svarsčių kalibravimui. Šios grupės svarstyklės būna tiksliausios. Specialios svarstyklės naudojamos kitiems (ne svėrimo) uždaviniams spręsti: pvz., nustatyti medžiagos tankį, išmatuoti veikiančią jėgą arba momentą ir pan. Svarsčiai.Tarptautinis masės etalonas yra specialus 1 kg platinos (90 %) ir iridžio (10 %) lydinio masės svarstis, laikomas Sevre (netoli Paryžiaus), su kuriuo periodiškai lyginami valstybių nacionaliniai etalonai. Reikalavimus svarsčiams nustato rekomendacija OIML R 111. Pagal šį dokumentą reglamentuojama svarsčių medžiaga, konstrukcija, masės nuokrypiai. Pagal tikslumą svarsčiai gali būti tokių tikslumo klasių: E1, E2, F1, F2, M1, M2 ir M3 (tikslumo mažėjimo tvarka). Sveriant šiuolaikinėmis elektroninėmis svarstyklėmis, svarsčių nereikia. Tačiau jų reikšmė labai svarbi užtikrinant matavimų vienovę, nes svarstyklės kalibruojamos arba tikrinamos etaloniniais svarsčiais. Be to, iki šiol naudojamos svarstyklės (dažniausiai mechaninės), kurioms svarsčiai yra būtini. M tikslumo klasių svarsčiai naudojami kaip darbiniai prekyboje ir ūkyje. F klasių svarsčiais sveriami brangieji metalai, brangakmeniai ir pan. E ir F (kartais ir M1) klasių svarsčiai naudojami kalibravimui kaip etaloniniai.

25. Galios matavimas: Prietaisai galiai matuoti vadinami galios matuokliais arba vatmetrais. Kadangi mašinų grandys paprastai sukasi, tai galią galima apskaičiuoti žinant momentą ir kampinį greitį, taigi, galios matuoklis yra torsiometro ir tachometro kombinacija. Galios matuoklio tipas priklauso nuo bandomos mašinos. Jeigu mašina yra mechaninės galios šaltinis (pvz., elektros variklis), tai galios matuoklis turi būti įtaisas, naudojantis galią, pvz., reguliuojamas stabdys. Jeigu bandoma mašina yra galios vartotojas, tai galios matuoklis turi tiekti reikalingą galią.

26.Temperaturos skales, etalonai ir kalibravimas: Temperatūra yra iš principo kitoks, negu kiti fizikiniai dydžiai: temperatūra yra molekulių judėjimo intensyvumo matas, tuo tarpu kiti fizikiniai dydžiai, pvz ilgis yra ekstensyvus dydis. Jeigu sujungsime galais dvi metrines liniuotes, tai gausime dviejų metrų ilgio liniuotę, tuo tarpu jeigu sujungsime du indus, kuriuose dujos yra 100 0C temperatūroje, tai vis tiek mišinio temperatūra bus lygi 100 0C, o ne 200 0C Termodinaminė temperatūros skalė yra patogi teorijoje, bet ji remiasi idealiu Karno ciklu, kuris praktiškai nerealizuojamas. Galima parodyti, kad temperatūros skalė, kuri remiasi pastovaus tūrio idealių dujų slėgio priklausomybe nuo temperatūros, atitinka termodinaminę skalę. Tai leidžia praktiškai atkurti, nors ir nelengvai, termodinaminę skalę dujiniais termometrais. Temperatūros matavimui pasinaudojama kūnų savybių priklausomybe nuo temperatūros. Dažnai temperatūra matuojama specialiu termometriniu kūnu, kuris yra sąlytyje su matavimo objektugyvsidabriniame termometre termometrinis kūnas yra gyvsidabris. Kai kada termometrinis kūnas gali būti pats matavimo objektas. Termometrinis kūnas nereikalingas temperatūrą matuojant nesąlytiniu metodu

27.Isipletimo termometrai: Išsiplėtimo termometruose pasinaudojama skysčių ir kietų kūnų savybe plėstis, kai kyla jų temperatūra. Tai stikliniai skystiniai, bimetaliniai ir skystiniai manometriniai termometrai.

30.Slėgio_vienetai_ir_etalonai. Atmosferos slėgis priklauso nuo oro sąlygų, šis slėgis vadinamas barometriniu.Atmosferos slėgio reikšmė, lygi 1 at (techninė atmosfera = 101,325 kPa) vadinama standartiniu slėgiu Fizikinė standartinė atmosfera lygi 760 mm Hg stulpo (101,293 kPa). Matuojant absoliutų slėgį, prie matavimo vieneto kartais prirašoma raidė „a” Slėgio etalonai mažų absoliutinių slėgių (1 Pa – 15 kPa) srityje yra stūmokliniai manometrai su jėgine kompensacija, vidutinių slėgių srityje tikslūs rezonansiniai virpančio cilindro keitliai, skystiniai gyvsidabrio manometrai (150 Pa – 100 kPa) ir stūmokliniai manometrai (1 kPa – 5000 MPa). Labai gilų vakuumą ir didelius slėgius matuoja specialiais prietaisais. Santykinės etalonų paklaidos atmosferinio slėgio srityje yra apie 10-6 , o slėgiui didėjant ir mažėjant paklaidos didėja iki 10-4.

34. SKYSČIŲ IR DUJŲ DEBITO IR KIEKIO MATAVIMASMatavimo vienetai. Matavimo priemonių klasifikavimas: Energetikoje, chemijos pramonėje, transportuojant skysčius ir dujas nuolat reikia matuoti jų kiekį ir debitą. Iš hidraulikos žinome, kad debitas (srautas) yra skysčio arba dujų kiekis, pratekantis vamzdžiu per laiko vienetą. Medžiagos kiekis gali būti matuojamas tūrio (m3, l) arba masės (kg, t) vienetais. Dujų tūris priklauso nuo jų temperatūros ir slėgio, todėl įvedama tūrio normaliose sąlygose sąvoka. Toks tūris matuojamas normaliais kubiniais metrais nm3 (arba m3(n)); tai yra dujų tūris 0 0C temperatūroje, esant normaliam atmosferos slėgiui (760 mm Hg stulpo), kurį galima surasti pagal dujų būvio dėsnius žinant dujų tūrį faktinėse sąlygose. Kadangi skysčių ir dujų kiekis gali būti matuojamas ir tūrio, ir masės vienetais, tai yra dvejopi ir debito vienetai: tūrio debitas matuojamas m3/s, l/s, o masės debitas – kg/s, t/h ir pan. Debitas ir kiekis gali būti matuojami tuo pačiu prietaisu arba atskirai. Žinant debitą, kiekis randamas integravimo operacija: V=(t0Qvdt.m3; M=(Qmdt,kg čia V – pratekėjusios per laiką t medžiagos tūris, m3; QV – tūrio debitas, m3/s; M – pratekėjusios per laiką t medžiagos masė, kg; QM – masės debitas, kg/s. Taigi, integruojant debitą, galima surasti kiekį. Debito ir kiekio matavimo priemonių yra ypač daug. Pagal matuojamąjį dydį ir panaudojamą fizikinį reiškinį jas galima suskirstyti į keturias dideles grupes: 1) Greitiniai debito matavimo prietaisai pagrįsti debito priklausomybe nuo srauto greičio. Jiems priklauso turbininiai, elektromagnetiniai, sūkuriniai, traukos jėgos, ultragarsiniai, optiniai ir kitokie debitmačiai. 2) pastovaus slėgio kritimo prietaisus, kuriuose susiaurėjimo skerspjūvio plotas kinta (rotametrai). 3) Tūriniai debitmačiai, kuriuose matuojama terpė suskaidoma tam tikro tūrio porcijomis ir skaičiuojama prabėgusių porcijų skaičius per laiko vienetą (ovalinių krumpliaračių, krypuojančio disko, stūmokliniai ir kitokie debitmačiai). 4) Masės debitmačiai, kurie matuoja ne tūrio, bet masės debitą (turbojėginiai, Koriolio, šiluminiai. Srautu matavimas tūrio debitas m3/h, masės debitas kg/h. Prietaisai: skatiklis, greitiniai , inerciniai ir slėgio kritimo. Greitiniai principas remiasi srauto greičio matavimu, 1 prietaisai su sparnuotėmis į vamzdžius yra įstatomos sparnuotės jos sukimosi greitias tiesiogiai praporcingas debitui Q, 2 indukciniai matuojamas elektrai laidžių skysčių debitui. Inerciniai kartais matuojamas masės debitas m=Qq, Slėgio kritimo naudojami gana plačiai P1>P2 V2>V1. Taikoma bernulio lygtis. – netiesiškumas kai matuojama siaurose ribose, galima panaudoti vientūrinius vamzdžius. Pastovaus slėgio kritimo debitas, matuojamas prietaisais rotametrais. Kai mažas p stikliniai, kai didelid metaliniai. ∆p=p2-p1 ∆p const. + paprastos kostrukcijos, turi tolyginę skalę. Skaitikliais matuojami kiekiai, 1 integruojant debitą a)greitiniai +pigesni b) tūrinis sudėtingesni tikslesni bet brangesni.per vieną prietaiso ciklą praeina fiksuoti tūriai, rotacinis skaitiklis ir būgninis. Ultragarsiniai + jie yra ne invaziniai .

  • Mechanika Šperos
  • 2016 m.
  • Lietuvių
  • Lukas
  • 4 puslapiai (11624 žodžiai)
  • Universitetas
  • Mechanikos šperos
  • Microsoft Word 1613 KB
  • Matavimai špera
    10 - 2 balsai (-ų)
Matavimai špera. (2016 m. Gruodžio 03 d.). http://www.mokslobaze.lt/matavimai-spera.html Peržiūrėta 2017 m. Lapkričio 25 d. 04:14