Pn sandūrų talpų tyrimas


Elektronikos laboratorinis darbas. Darbo tikslas: išsiaiškinti pn sandūros barjerinės ir difuzinės talpų prigimtį, išnagrinėti, nuo ko, kaip ir kodėl jos priklauso. Atlikti barjerinės talpos eksperimentinius tyrimus. Matavimų rezultatai. Gradavimo kreivės matavimo rezultatai. Barjerinės talpos matavimų rezultatai. Priklausomybių grafikai. Barjerinės talpos priklausomybė nuo atgalinės įtampos. Cb-. Priklausomybė nuo atgalinės įtampos. Išvados. Atlikęs bandymą, nustačiau, kad barjerinė talpa priklauso ne tik sandūros ploto, bet ir nuo atgalinės įtampos. Didėjant atvirkštinei įtampai, pn sandūros storis didėja – pn sandūra plečiasi, o talpa mažėja. Diodų kontaktiniai potencialų skirtumai skiriasi dėl to, jog diodai pagaminti iš skirtingų puslaidininkių (t. Y. Skiriasi savųjų krūvininkų koncentracijos) bei skirtingos priemaišų atomų koncentracijos na ir nd.


Darbo tikslas: išsiaiškinti pn sandūros barjerinės ir difuzinės talpų prigimtį, išnagrinėti, nuo ko, kaip iratlikęs bandymą, nustačiau, kad barjerinė talpa priklauso ne tik sandūros ploto, bet ir nuo atgalinės įtampos.

Apie pn sandūros tipą sprendžiame iš iš cb-2 ir cb-3 priklausomybių nuo atgalinės įtampos grafikų.

Pn sandūrų talpų tyrimas. (2011 m. Gruodžio 09 d.). http://www.mokslobaze.lt/pn-sanduru-talpu-tyrimas.html Peržiūrėta 2016 m. Gruodžio 03 d. 15:52